| 商品编码 | 9031410000 | ||||
| 商品名称 | 制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的) | ||||
| 申报要素 | 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:品牌;5:型号;6:GTIN;7:CAS; | ||||
| 归属分类 | 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章) | ||||
| 章节归属 | 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件 | ||||
| 法定第一单位 | 台 | 法定第二单位 | 无 | ||
| 最惠国(%) | 0% | 进口普通(%) | 17% | 出口从价关税率 | 0% |
| 增值税率 | 17% | 退税率(%) | 17% | 消费税率 | - |
| 海关监管条件 | 无 | 检验检疫 | 无 | ||
| 商品描述 | 制造半导体器件的检测仪和器具第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的 | ||||
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices | ||||
| 个人行邮(税号) | 27000000 | ||||
| 许可证或批文代码 | |||||
| HS法定检验检疫 | |||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90314100.00 | 变焦光学系统 | 实验室用 |
| 90314100.00 | 半导体膜厚测量仪(旧) | 在制造半导体器件工艺中,用于测量晶片表面镀膜的厚度 |
| 90314100.00 | 静电卡盘 | 芯片在反应室中通过在静电卡盘上依靠静电固定,进行工艺处 |
| 90314100.00 | 半导体颗粒测试仪(旧) | 用来检测半导体晶片表面的颗粒 |
| 90314100.00 | 制造半导体器件的检测仪和器具 | 对氮化镓、硅等半导体材料结构进行检测分析 |
| 90314100.00 | 多晶硅电池片分色检验仪 | 用光学原理检验多晶硅电池片 |
| 90314100.00 | 硅片颗粒扫描仪(旧) | 用于检测芯片表面颗粒数量和颗粒直径 |
| 90314100.00 | 半导体检测设备 | 用于半导体晶圆制造检测 |
| 90314100.00 | 硅晶片检测仪 | 用光学原理检测硅晶片是否有隐裂 |
| 90314100.00 | DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE | (O-PAS700S/电压100V) |
| 90314100.00 | 静电卡盘 | 制造半导体芯片过程中,芯片在反应室中通过静电卡盘上依靠 |
| 90314100.00 | 全自动晶粒挑拣机 | 使用设备,根据程序指令及自动视觉影像辨识,将符合要求的 |
| 90314100.00 | 半导体晶片光学检测仪(旧) | 检测半导体晶片表面缺陷;KLATencor;KLA2 |
| 90314100.00 | 三维管脚检测仪(旧) | 检测用;品牌ICOS;检测;型号CI-T1XO |
| 90314100.00 | 晶格图像检测机 | 型号:LEDA-PNPM6600;检测对象:LED芯片,无测试结果;显 |
| 90314100.00 | VITROX外观检测系统VT-LP2000T | 检测晶体管外观用设备 |
| 90314100.00 | 半导体器件测试机, | DC2600 |
| 90314100.00 | 全自动外观检查机 | 型号:LI-700B2,自动光学检测 |
| 90314100.00 | 半导体检测仪(旧) | DM2000 |
| 90314100.00 | DVD光学头评价机/PULSTEC | 光学头评价/O-PAS710A交流100V |
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